Basler L300 Serisi Genel Özellikleri

  • Asynchronous full frame shutter
  • Electronic exposure time control
  • Yüksek hassasiyet ve SNR (Signal-to-Noise ratio)
  • Anti-blooming
  • Kare pikseller
  • Tek güç kaynağı
  • Süper tümleşik yapı
  • Endüstriyel dayanım ve montaj kolaylıkları

3x2098 piksel çözünürlüğündeki L300 serisi, "line scan" uygulamalarda en yüksek fiyat/performans oranına sahip kameralardır.

Basler L300 serisi kameralar sistem sağladıkları renk yetenekleriyle baskı, para, kereste ve gıda kontrolü gibi alanlarda yeni fırsatlar sunmaktadır.

Çok kullanışlı ve esnek olan bu kameralarda üç farklı entegrasyon modu seçebilir kazanç ve ofset ayarlarını yapabilirsiniz. Tüm kamera ayarları seri porttan gönderilen basit programlama komutları ile yapılabilmektedir.

L200 serisi kameraların içinde test resimleri ve sinyal LED' leri gibi sorun giderme araçları da bulunmaktadır. Bu özellikler sistem kurulumunu kolaylaştırmakta ve kullanıcının problemleri izole ederek sorunları daha kısa zamanda çözmesini sağlamaktadır.

Opsiyonel bir dönüştürücü ile video veri çıkışları standart RS-644 LVDS formatına çevrilebilmektedir.

L300 Spesifications

 

Specification L301bc
Sensor Size 3lines x 2098 pixel / line
Sensor Type Tri-linear CCD
Pixel Size 14 µm x 14µm, 14µm pitch
Center to center spacing 112 µm
between color channels  
Pixel Clock 20 MHz (in 8 bit RGB output mode)
40 MHz (in dual 8 bit output mode)
60 MHz (in single 8 bit or 10 bit output mode)
Max. Line Rate 9.20 kHz
Video Output

Channel Link LVDS*

Video Output Formats Single pixel 8 bit
  Single pixel 10bit
  Dual pixel 8 bit
  8 bit RGB
Synchronization External via external trigger signal
Exposure Time Control Edge-controlled, level-controlled, programmable
Gain and Offset Programmable via an RS-232 serial link
Power Requirements 12 VDC (± 10%)
  < 1% ripple, max. 6 W
Housing Size (L x W x H in mm) 38.1 x 62 x 62
Weight 265 g max.
Lens Adapters F-mount
Conformity CE, FCC
*RS-644 when used with an optional Basler Interface Converter (BIC).

 

 

Copyright © 2003 Endüstriyel & Bilimsel Test Teknolojileri Tasarımı ve Ar-Ge Mühendisliği