SIGNAL EXPRESS

Signal Express tasarım ve test mühendislerinin electronic sinyalleri hızlı bir şekilde toplayıp analiz edebilecekleri etkileşimli bir yazılımdır.

Özellikleri:

  • Programlama gerektirmez. Bütün işlemler mouse la yapılabilir
  • Hızlı ölçme konfigürasyonu
  • Simulasyon verilerinin entegrasyonu
  • LabView ile genişleyen fonksiyonellik

Uygulamalar:

  • Design Modelling
  • Design verification
  • Design Characterization
  • Device Validation
  • Automated test troubleshooting

Hızlı Ölçüm Konfigürasyonu:

  • Signal I/O-çeşitli donanımlardan sinyallerin oluşturulumu ve toplanması
  • Sinyal İşleme-Sinyal filtreleme, averajlama gibi fonksiyonlar
  • Time domaini-genlik ölçümü zamanlama ve histogram gibi analizler
  • Frekans domaini-Güç , frekans cevabı, tone ve distortion ölçümleri
  • Test işlemleri-Ölçüm otomasyonu için sweep ve limit testleri

Simulasyon Sonuçlarının Entegrasyonu

Signal Express ayrıca simulasyon datalarının ölçüm ortamına aktarımı için adımlar içerir. Bu adımlarla Simulasyon dataları Elektronik wprkbenchlerde kullanılan OrCAD SPICE, Pspice, ve Multisim gibi popüler yazılımlardan transfer edilebilir. Bu güçlü özellik sayesinde ölçülen data ile simulasyon datalarını hızlı bir şekilde karşılaştırabilirsiniz.

LabView ile genişleyen Fonksiyonellik:

Eğer Signal Express içerisinde bulunmayan bir ölçüm,analiz yada karşılaştırma adımına ihtiyacınız olursa, Signal Express projelerinin içerisinde kullanabileceğiniz user-defined adımları LabView içerisinde oluşturabilirsiniz. Ayrıca Ürün geliştirme döngüsünde tekrar kullanabilmek üzere Signal Express projelerini LabView Block diagramına aktarabilirsiniz.

Desteklediği donanımlar ve Sistem gereksinimleri

Sistem Gereksinimleri:

  • Windows 2000/XP/NT (NT 4.0 service pack or later)
  • Pentium 4 or eşdeğer işlemci (600 MHz minimum)
  • 128 MB RAM (256 MB önerilir)
  • 100 MB boş disk alanı (500 MB önerilir)

Önerilen NI Donanımı:

  • NI E Serisi ve M Serisi Veri toplama kartları
  • NI High-Speed Digitizerlar
  • NI Signal Jeneratorleri

Copyright © 2003 Endüstriyel & Bilimsel Test Teknolojileri Tasarımı ve Ar-Ge Mühendisliği